安捷倫在線非向量測試套件VTEP v2.0包括NPM測量技術(shù)

    安捷倫科技公司(Agilent)日前宣布推出安捷倫Medalist VTEP v2.0，這是由非向量測試功能組成的套件，其中包括新的NPM測量技術(shù)。這一測試功能包括NPM測量技術(shù)，用戶可以檢測連接器上電源管腳和接地管腳中的開路。

    隨著信號在電路板上傳輸?shù)乃俣仍絹碓礁�，如在PCIe、DDR和SATA連接器上，正確接地正變得日益關(guān)鍵。隨著速度提高，接地針腳上的開路可能會導(dǎo)致信號集成的設(shè)計范圍降低，誤碼率(BER)提高，放射電磁干擾(EMI)提高。

    安捷倫VTEP v2.0是為幫助制造商檢測這些關(guān)鍵缺陷而設(shè)計的，功能測試和產(chǎn)品發(fā)售中可能檢測不到這些缺陷，在后期可能會給制造商帶來更高的成本。

    此外，通過VTEP v2.0，用戶可以獲原有得VTEP技術(shù)的優(yōu)勢，如更高的靈敏度，更有效地降低噪聲；同時獲得iVTEP的優(yōu)勢，該技術(shù)面向采用最小引線框或不帶引線框的超小型集成電路封裝。iVTEP還適用于帶有散熱片的設(shè)備及帶有附加散熱器的器件。

    安捷倫還為印刷電路板組件推出了Medalist i3070在線測試系統(tǒng)。VTEP v2.0采用與原有VTEP相同的硬件，因此不要求進行硬件升級。