伴隨著“第74屆中國電子展”的隆重開幕，“第十三屆國際電子測試與測量專業(yè)研討會暨2009集成電路測試技術峰會”也于昨日拉開了帷幕。
此次峰會是由中國電子學會和中國電子器材總公司主辦，愛德萬（蘇州）有限公司協(xié)辦，中國電子學會電測分會、北京自動測試技術研究所和中電會展與信息傳播有限公司共同承辦的。會議由中國電子學會電測分會秘書長崔建平主持，
會議首先向參會代表介紹了特邀的各位嘉賓：上海集成電路設計孵化基地的總經(jīng)理趙華鑫、包智杰等，隨后北京自動測試技術研究所的副所長于韶光、上海市集成電路行業(yè)協(xié)會秘書長蔣守雷、愛德萬（蘇州）有限公司的總經(jīng)理徐勇分別致辭，他們熱情洋溢的講話博得了代表們的熱烈掌聲。正如蔣秘書長所言，中國目前的“芯”還不是自己的，中國電子產業(yè)的發(fā)展最重要的一部份就是集成電路的發(fā)展”，而徐勇總經(jīng)理則坦言，雖然愛德萬是外資公司，但我卻是真正的中國心，我們愿意為中國的集成電路行業(yè)的發(fā)展貢獻應有的力量。
整個峰會分上、下午兩個專場，上午主要由國內大規(guī)模集成電路測試的權威機構-北京測試技術研究所的馮建科總工、姜巖峰博士和復旦大學集成電路測試技術中心的肖鵬程主任就“混合信號集成電路測試方法新進展”“新一代數(shù)�；旌闲盘枩y試技術及系統(tǒng)”“Gb/s超高速集成電路測試技術”和與會代表進行探討；下午則由愛德萬（蘇州）有限公司就“先進的RFIC測試方案”“高精度ADC測試”“高速DAC的測試”“SIP測試”“DDR3測試方法”等高端熱點技術和與會代表交流。臺上臺下問答不斷，會議現(xiàn)場互動氣氛異常熱烈。
一天高端前沿的演講內容吸引了150多位專業(yè)聽眾，他們既有來自上海華虹NEC、上海先進半導體、上海飛樂、中茂電子、飛思卡爾半導體、松下半導體、燦芯半導體等知名企業(yè)的工程師，也有來自上海交大、復旦大學、同濟大學、南京理工大、華東理工大學、 華東師范大學、合肥工業(yè)大學、無錫商職院等高校和職校的專家教授和學生，更有來自中航無線電電子研究所、中國北車研究所、615所等研究院所的高工和主管。■