2007’中國儀器儀表與測控技術交流大會征文通知

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　　科學技術的飛速發(fā)展，特別是信息技術的發(fā)展，催生了眾多的新工藝、新材料、新產(chǎn)品，給人們的生產(chǎn)生活帶來了日新月異的變化，然而所有這些新工藝、新材料、新產(chǎn)品都離不開儀器儀表和測控技術，測控技術是這些產(chǎn)品質(zhì)量的重要保證。隨著被測試系統(tǒng)、產(chǎn)品的發(fā)展水平日趨提高——速度越來越快、體積越來越小、應用覆蓋范圍越來越廣，人們對測控技術及儀器儀表的要求也越來越高，促使測控技術和儀器儀表不斷出現(xiàn)新理論、新技術和新方法。為了進一步促進現(xiàn)代測控技術和儀器儀表的發(fā)展，加快該領域科研成果的推廣、移植和轉化的步伐，給業(yè)內(nèi)人士提供一個面對面交流與探討儀器儀表、測控技術的機會，于2007年6月初，中國儀器儀表學會、《儀器儀表學報》、《國外電子測量技術》與《電子測量技術》聯(lián)合在成都舉辦“2007’中國儀器儀表與測控技術交流大會”。